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高功率多波段UV-LED點(diǎn)光源---光波導(dǎo)傳輸,光固化等應(yīng)用昊量光電新推出用于紫外光固化工藝的模塊化光譜組合的高功率多波段UV-LED點(diǎn)光源。模塊化理念,基于UV-LED技術(shù)、VIS-LED技術(shù)和NIR-LED技術(shù),高功率多波段UV-LED點(diǎn)光源可以把365nm-1050nm間1-5個(gè)LED模塊集成到一臺(tái)光引擎中,實(shí)現(xiàn)光譜組分的靈活定制,具有優(yōu)良的光固化能力。這款高功率多波段UV-LED點(diǎn)光源采用觸屏設(shè)置,操作簡(jiǎn)單,且具有非常穩(wěn)定的輸出和很長(zhǎng)的使用壽命,廣泛的應(yīng)用在汽車(chē)自動(dòng)化...
查看全文近年來(lái),隨著科技不斷發(fā)展和進(jìn)步,各種先進(jìn)的成像技術(shù)被廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)探測(cè)以及環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。其中,高光譜成像技術(shù)是一項(xiàng)非常重要的成果之一。顧名思義,高光譜相機(jī)是指能夠?qū)ξ矬w進(jìn)行多波段連續(xù)頻率校準(zhǔn)拍攝并得出其所含有的色彩信息的照相工具。與傳統(tǒng)單通道相機(jī)只能儲(chǔ)存紅、綠、藍(lán)三原色不同,在采集圖像時(shí),高光譜攝影可檢測(cè)到更多特定波長(zhǎng)下目標(biāo)反射或輻射出來(lái)的信號(hào),并將其記錄下來(lái)。這些數(shù)據(jù)可以通過(guò)計(jì)算處理后轉(zhuǎn)換為圖像生成更加詳細(xì)和真實(shí)的視覺(jué)效果。如何使用?在現(xiàn)代農(nóng)業(yè)中就是一個(gè)很好例...
查看全文【應(yīng)用案例】Moku:Pro簡(jiǎn)化雙色受激拉曼散射顯微鏡實(shí)驗(yàn)應(yīng)用案例Moku:Pro簡(jiǎn)化雙色受激拉曼散射顯微鏡實(shí)驗(yàn)介紹在華盛頓大學(xué),研究人員致力于雙色受激拉曼散射(SRS)顯微鏡技術(shù)研究開(kāi)發(fā)化學(xué)成像工具,用于早期癌癥檢測(cè)和了解神經(jīng)退行性疾病進(jìn)展。實(shí)驗(yàn)裝置通常包括多個(gè)復(fù)雜的高性能儀器,用于實(shí)時(shí)雙色SRS成像或兩個(gè)相距較遠(yuǎn)的拉曼躍遷的同步成像?,F(xiàn)在,他們正在使用Moku:Pro鎖相放大器和多儀器并行模式,僅通過(guò)Moku:Pro一臺(tái)緊湊的多通道設(shè)備進(jìn)行多種實(shí)驗(yàn)并捕捉低強(qiáng)度的SRS信號(hào)...
查看全文Moku云編譯+ChatGPT:客戶(hù)定制化需求的天花板Moku:pro不僅能夠解決大多數(shù)電學(xué)信號(hào)的測(cè)試和ji具難度的測(cè)量實(shí)驗(yàn),而且能夠支持jian端實(shí)驗(yàn),并能在設(shè)計(jì)具有du特要求的先jin產(chǎn)品時(shí),具有優(yōu)xiu的表現(xiàn)??茖W(xué)家和工程師們經(jīng)常會(huì)在軟件中進(jìn)行方便的離線(xiàn)模擬或數(shù)據(jù)處理,此時(shí)他們會(huì)通過(guò)用戶(hù)可編程FPGA找到更高性能的解決方案。然而,盡管它們很有用,但這些解決方案有時(shí)候也會(huì)很復(fù)雜且難以實(shí)現(xiàn)。MokuCloudCompile(MCC)云編譯為熟悉FPGA編程的用戶(hù)xiao除了...
查看全文光學(xué)成像要通過(guò)光學(xué)零件的折射和反射來(lái)實(shí)現(xiàn),決定一種材料能否用來(lái)制造光學(xué)零件,要看它對(duì)要求成像的波段是否透明,或者在反射的情況下是否具有足夠高的反射率。對(duì)于透射光學(xué)零件來(lái)說(shuō),透射材料的特性除了透過(guò)率之外,還有它對(duì)各種特征譜線(xiàn)的折射率,其中以D或d線(xiàn)的折射率nD或nd以及F線(xiàn)和C線(xiàn)的折射率差nF-nc作為其主要的光學(xué)性能參數(shù),這是因?yàn)镕線(xiàn)和C線(xiàn)接近人眼光譜靈敏極限的兩端,而D線(xiàn)或d線(xiàn)在其中間,接近人眼靈敏的波長(zhǎng),nd稱(chēng)為平均折射率,nF-nc稱(chēng)為平均色散。此外,將?d=(nd-1...
查看全文在一個(gè)簡(jiǎn)單的激光器中,每一個(gè)模式都獨(dú)立地振蕩,彼此之間沒(méi)有固定的關(guān)系,本質(zhì)上就像一組獨(dú)立的激光器,它們都以略微不同的頻率發(fā)光。每種模式中光波的各個(gè)相位都不是固定的,可能會(huì)因激光器材料的熱變化等因素而隨機(jī)變化。在只有少數(shù)振蕩模式的激光器中,模式之間的干擾會(huì)導(dǎo)致激光輸出中的拍頻效應(yīng),導(dǎo)致強(qiáng)度波動(dòng);在具有數(shù)千個(gè)模式的激光器中,這些干擾效應(yīng)趨于平均到接近恒定的輸出強(qiáng)度。如果不是獨(dú)立振蕩,而是每個(gè)模式運(yùn)行時(shí)與其他模式之間保持固定的相位差,則激光輸出的行為會(huì)截然不同。激光模式將周期性地相...
查看全文點(diǎn)衍射干涉儀的精度檢驗(yàn)方法點(diǎn)衍射干涉儀(PointDiffractionInterferometer,PDI)是一種基于衍射干涉原理的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。它利用激光束小孔后產(chǎn)生接近理想的點(diǎn)光源對(duì)物體表面進(jìn)行測(cè)量,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測(cè)量。點(diǎn)衍射干涉儀不需要標(biāo)準(zhǔn)參考件,可以用于超高精度面型的檢測(cè),是一種非常重要的高精度測(cè)量?jī)x器。1.1測(cè)試光路測(cè)試系統(tǒng)主要由D7點(diǎn)衍射干涉儀主機(jī),準(zhǔn)直器,5mm口徑鋁鏡,光學(xué)平臺(tái)等構(gòu)成。1.2測(cè)試環(huán)境溫度:21℃&plus...
查看全文非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x是一種常見(jiàn)的表面分析儀器,其原理基于光學(xué)干涉或者電磁感應(yīng)等技術(shù)。相比于傳統(tǒng)的劃痕法和化學(xué)分析法,非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x具有高精度、快速和不破壞測(cè)試樣品等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程、光學(xué)制造等領(lǐng)域。原理是利用光學(xué)干涉原理或電磁感應(yīng)原理來(lái)測(cè)定薄膜的厚度。其中,光學(xué)干涉法是通過(guò)反射光線(xiàn)之間的干涉來(lái)測(cè)量薄膜的厚度,而電磁感應(yīng)法則是依靠磁場(chǎng)的變化來(lái)檢測(cè)薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測(cè)量薄膜對(duì)光線(xiàn)或磁場(chǎng)的影響上,通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)信號(hào)變化來(lái)計(jì)算出薄膜的厚度。...
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